| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
延遲探測(cè)器（Delayline Detectors）
延遲探測(cè)器（Delayline Detectors）具有出色的時(shí)間分辨率、高達(dá)幾十MHz采樣和動(dòng)態(tài)1D/2D /3D直方圖，將微觀粒子分析提升到高速測(cè)量的新水平。如上圖，微通道板探測(cè)器（MCP）提供了高性能電子、離子及光子成像。如果應(yīng)用程序進(jìn)行單事件分析，則MCP的延遲探測(cè)器讀出是很好的選擇，因?yàn)镈elayline檢測(cè)器（DLD）能夠?qū)崿F(xiàn)真正的單事件計(jì)數(shù)，具有高信噪比和高時(shí)間分辨率。
讀出在所有時(shí)間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢(shì)，因?yàn)樗鼈兲峁┑?/span>時(shí)間切片圖像具有很高強(qiáng)度線性，時(shí)間窗口低至100ps以下。
關(guān)鍵參數(shù)
| Active Diameters | 10mm - 120mm |
| Lateral Resolution | down to 50µm |
| Imaging Countrate (Permanent Random) | > 5 million counts/s |
| Imaging Countrate (Special Layouts) | > 20 million counts/s |
| Max. Burst Rate | up to 100 million counts/s equivalent |
| Multi-Hit Designs | >= 4 hits |
| High Voltage Floating Capability | up to 10kV |
| Time Bin Resolution | 6.8ps |
| Typical Time Resolution (Position Integrated) | < 200ps |
| Start Repetition Rate | max. 9MHz |
| Standard COMS | USB 3.0 & GBit LAN |
配置示意圖
應(yīng)用領(lǐng)域：
電子和離子的飛行時(shí)間分析（TOF）
時(shí)間相關(guān)或時(shí)間符合光子和粒子成像
用于X射線和電子能譜的門(mén)控成像
檢測(cè)尺寸達(dá)120mm的大面積計(jì)數(shù)成像(XPS, UPS, EELS)
電子能量和飛行時(shí)間分析儀(XPS, UPS, EELS)
飛行時(shí)間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)
中能離子散射與飛行時(shí)間分析(MEIS - ToF)
原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)
X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)
門(mén)控對(duì)比增強(qiáng)X射線皮秒成像
熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號(hào)6號(hào)樓3樓
